Nanovea光笔不受样品反射率的影响。

变化无需样品制备，并拥有测量高表面角度的能力。能够进行大的Z范围的测量。测量任何材质：透明/不透明，镜面/扩散，抛光/粗糙。快速分析划伤，压痕和磨损在3D精密光学下的结果。为不同的的动态垂直测量选择大的笔。
优良垂直和空间分辨率可选择大的光笔、无需制备样品、高表面角度的能力、可测量任何样品表面。
 

AFM模块

AFM对于确定测量范围是很有效的。提供了快速从光学轮廓仪测量的被选择区域移动到的AFM三维测量在较高的水平和垂直分辨率的使用能力。 AFM测量是无损的，不需要样品制备。AFM的设计容易记住使用并且与市场上简单探测进行交流。AFM要分开安装，并提供一个友好的安装避免缆线缠绕，在显微镜安装在AFM上是一个问题。标准模式：静力（接触）、恒力、恒定高度。扩展模式：动态力（断续接触等） ：恒振幅，恒定高度、静力：力调制模式，扩展电阻。动态力：相衬，磁力，静电力。扫描区域可达110μm、Z范围可达22μm、XY分辨率可达0.15nm、Z分辨率可达0.027nm

光学成像

视频变焦相机提供通过现场摄像机视图来衡量选择一个区域的可用性，相机补偿到光学笔在Nanovea 3D软件校准的距离下。在11.42毫米到1.77毫米对角线场中完成手动或电动变焦能力。在软件中可以使用视频选择功能视频选项将允许用户绘制围绕一种测量过的特点，取表面的图像和合并多个图像创建表面的大图片。增加相机选项时，包含了模式识别软件。